半导体封装检测装置(GATS-7755)| 尼得科/NIDEC
尼得科提供的半导体封装检测装置(GATS-7755),是面向微细间距FC-CSP的高速度&高精度检测装置,可用于无芯电路板的下一代检测装置,高速度&高精度穿梭型分步&重复 OPEN/LEAK电路板自动检测装置。多面基板(MCM/MCP/BGA/CSP等)线路的开路短路(绝缘)检查。
https://www.nidec-group.cn/product/detail/137?uri=use&selected=199%2C236%2C251