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展会/讲座信息
2026-09-10
展会/讲座信息
尼得科精密检测科技株式会社将参展SEMICON INDIA 2026
致各位
- 公 司 名
- 尼得科精密检测科技株式会社
- 代 表 人
- 总裁 山崎 秀和
- 公司地址
- 京都府向日市Nidec Park33番地C栋
尼得科精密检测科技株式会社（以下简称“本公司”）将参加于2026年9月17日（周四）至 9月19日（周六）在印度新德里举办的半导体行业展会SEMICON INDIA 2026。
本届展会是印度规模最大的半导体专业盛会，汇聚来自全球20个国家的500余家企业。本年度展会主题为“Transform Tomorrow: Silicon to Systems: Building the Ecosystem”，展品覆盖半导体材料至系统级全产业链。
本公司展台将展出依托前沿探针技术打造的探针卡，同时面向晶圆、芯片、基板、封装等各制造工序，推出电气检测与外观检测新一代解决方案。此外，针对电动化快速发展的汽车行业，我们同步展出可实现性能评估与耐久测试高效化的TDAS系列（电机/E-Axle测试台），以及面向电动汽车整车设计与分析仿真的软件E Transport Simulator®。
【参展概要】
・展期：2026年9月17日(周四)～9月19日(周六)
・展馆：Yashobhoomi（印度国际会议展览中心）
・展位：H4305, Hall 2
・展期：2026年9月17日(周四)～9月19日(周六)
・展馆：Yashobhoomi（印度国际会议展览中心）
・展位：H4305, Hall 2
【展出产品】
- STAR REC系列（服务器、通信、车载产品、电脑、智能手机基板检测设备）
- GATS系列（半导体封装自动检测设备）
- NATS系列（IGBT/SiC模块绝缘/静态特性/动态特性检测设备）
- RWi-300MK3（2D/3D晶圆凸点检测设备）
- AURCA系列（3D/AFVI AI视觉检测系统）
- RSH系列（适配高密度基板的2D/3D检测设备）
- 高精度检测治具
- TDAS系列(电机/E-Axle测试台)
- E-Transport Simulator® (xEV整车建模仿真软件)
- 探针卡（半导体晶圆检测用）
- STAR REC系列（服务器、通信、车载产品、电脑、智能手机基板检测设备）
- GATS系列（半导体封装自动检测设备）
- NATS系列（IGBT/SiC模块绝缘/静态特性/动态特性检测设备）
- RWi-300MK3（2D/3D晶圆凸点检测设备）
- AURCA系列（3D/AFVI AI视觉检测系统）
- RSH系列（适配高密度基板的2D/3D检测设备）
- 高精度检测治具
- TDAS系列(电机/E-Axle测试台)
- E-Transport Simulator® (xEV整车建模仿真软件)
- 探针卡（半导体晶圆检测用）