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展会/讲座信息
2026-02-09
展会/讲座信息
NEW
尼得科精密检测科技将亮相“SEMICON KOREA 2026”
- 公 司 名
- 尼得科精密检测科技株式会社
- 代 表 人
- 董事长 山崎 秀和
- 所 在 地
- 日本京都府向日市森本町东之口1-1
Nidec Park C栋
尼得科精密检测科技株式会社（以下简称“本公司”）将参展2026年2月11日（周三）～2月13日（周五）于韩国首尔COEX会议中心举办的“SEMICON KOREA 2026”。
本次展会将展出助力下一代功率半导体(IGBT/SiC)市场的检测设备“NATS系列”以及汇总了集团技术的最新检测解决方案。
本公司子公司尼得科SV Probe将首次在韩国展出晶圆检测夹具“探针卡”的最新解决方案，包括可实现半导体器件温度测量的TC(Thermo Couple：热电偶)探针，以及采用2D MEMS技术的探针卡等产品。
此外，我们还将展示本公司核心产品半导体封装基板电气检测系统“GATS系列”的最新机型。
【参展概要】
・展期：2026年2月11日(周三)～2月13日(周五)
・会场：首尔市 COEX会议中心
・展位：1楼Hall Grand Ballroom G004
・官方网站：https://www.semiconkorea.org/en
・展期：2026年2月11日(周三)～2月13日(周五)
・会场：首尔市 COEX会议中心
・展位：1楼Hall Grand Ballroom G004
・官方网站：https://www.semiconkorea.org/en
【展品及Panel展示内容】
・2D-MEMS探针卡
・垂直型 高电流 PROBE
・器件温度测量 PROBE
・玻璃微孔加工
・IGBT/SiC模块用绝缘/静态特性/动态特性检测设备
・“NATS-1000/1700系列”
・KGD测试装置“NATS-1300系列”
・RWi-300MK(wafer AOI)
・AC/DC多功能测试仪“R-700系列”
・AI服务器大型电路板电气检测系统“GATS-8360”
・超高精度检测用针式探针
・2D-MEMS探针卡
・垂直型 高电流 PROBE
・器件温度测量 PROBE
・玻璃微孔加工
・IGBT/SiC模块用绝缘/静态特性/动态特性检测设备
・“NATS-1000/1700系列”
・KGD测试装置“NATS-1300系列”
・RWi-300MK(wafer AOI)
・AC/DC多功能测试仪“R-700系列”
・AI服务器大型电路板电气检测系统“GATS-8360”
・超高精度检测用针式探针